賽默飛世爾科技推出全新表面表征工具

—— 用于表面化學(xué)表征的全集成式X射線光電子能譜儀 

　　2009年12月19日，MADISON – 服務(wù)科學(xué)的世界領(lǐng)導(dǎo)者賽默飛世爾科技近日宣布，全新Thermo Scientific Escalab 250Xi光電子能譜儀（XPS）是一種全集成式表面表征工具，專門設(shè)計(jì)用于滿足從事表面，薄膜和涂層的常規(guī)表征工作，乃至前沿表面化學(xué)研發(fā)的工程師們的要求。

　　Escalab 250Xi是享譽(yù)世界的Thermo Scientific Escalab產(chǎn)品線的最新產(chǎn)品。該全新設(shè)備集成了出色的光譜儀性能和Thermo Scientific Avantage XPS采集和處理用戶界面。這種儀器與軟件的組合不僅具有高樣品通量，而且具有市場領(lǐng)先的分析性能，尤其適用于當(dāng)今表面分析領(lǐng)域中復(fù)合材料的表征。另外，高級平行圖像監(jiān)測系統(tǒng)的集成可對圖像視場內(nèi)的微小特征進(jìn)行定量光譜分析。

　　Avantage數(shù)據(jù)系統(tǒng)利用一種優(yōu)化的工作流程提供優(yōu)異的分析效率，該流程可以指導(dǎo)分析人員進(jìn)行數(shù)據(jù)采集，解析，處理和報(bào)告生成。Avantage在進(jìn)行一系列XPS光譜和圖像處理任務(wù)時(shí)，還具有全數(shù)字工具控制。只需點(diǎn)擊一下鼠標(biāo)，即可利用自定義的實(shí)驗(yàn)室報(bào)告模板輕松將分析報(bào)告輸出到標(biāo)準(zhǔn)PC應(yīng)用程序中，例如Microsoft® Office。

　　Escalab 250Xi平臺具有非凡的靈活性，因此分析人員可以利用一系列其他表面表征工具配置該系統(tǒng)。儀器配備了離子散射譜（ISS）和反射電子能量損失譜（REELS），同時(shí)可選配紫外光電子能譜（UPS）和俄歇電子能譜（AES）。儀器的標(biāo)準(zhǔn)配置還包括了樣品制備室。如果需要，可以利用樣品制備選項(xiàng)和附加的實(shí)驗(yàn)樣品室擴(kuò)展該系統(tǒng)。