梅特勒-托利多推出新型XP105分析天平

梅特勒-托利多作為全球領先的精密儀器與服務供應商，推出了新型 XP105 分析天平，進一步拓展了豐富的 XP 天平系列。XP105 天平為實驗室環(huán)境中糖分純度的定量分析提供了安全、準確的解決方案，降低誤差風險、提高效率以及易于操作。選配 LabX Balance軟件，只需簡單設置，即可引導操作人員完成稱量過程。
由于實驗室環(huán)境中通常存在硫酸等腐蝕性物質，因此確保安全性至關重要。當操作人員戴上防護手套的同時，還必須確保實驗室儀器堅固、耐用，且易于操作。此外，為避免樣品混淆等差錯，易于執(zhí)行的差重稱量應用程序和自動識別樣品功能是首要必備的條件。

針對這一類應用的理想解決方案就是XP105天平（量程為 100 g，可讀性為 0.01 mg）。

XP105 天平的紅外感應系統(tǒng)（ SmartSens ），幫助用戶實現(xiàn)無需用手接觸天平的稱量操作，這對在稱量過程中需戴手套的操作人員來說尤為重要。天平的觸摸式顯示屏為操作人員提供了清晰的操作指導，指導操作人員完成包括樣品標識認證在內的稱量過程，從而降低差錯風險、提高效率。

LabX Balance軟件使電腦與 XP105 天平輕松連接。通過對軟件進行設置，可指導用戶根據(jù)天平彩色觸摸屏上顯示的有關用戶標準操作程序（SOP）的個性化對話框完成稱量過程。這種遠程功能和可追溯性文件記錄可顯著優(yōu)化實驗室工藝過程的效率。